SEICA参加IPP技术日,2022年3月15日至16日
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Seica将参加2022年IPP技术日，我们很荣幸再次与我们的合作伙伴IPP一起参加飞针测试会议。一如既往，这两天的行程将结合技术演示和现场机器演示。
Seica将展示飞针测试解决方案以及Pilot和Rapid系列，展示垂直飞针测试系统Rapid V8，配备8个完全独立的移动测试探针，每侧4个探针，进行演示并指出所有创新性能。
由于采用了第三代线性导轨技术，Seica飞针测试系统能够以最高的精度和测量重复性实现极高的速度。
现在注册(https://www.ippgroupltd.com/electronics/ipp-electronic) 参加IPP技术日，除了使用8探针系统进行演示外，您还将有可能获得有关Seica飞针系统的全面信息，并能够观看显示Seica在35年的业务活动中取得的高技术水平的视频：尤其是新的Pilot VX平台。
Pilot VX通过尖端解决方案提高了飞针测试性能的标准，解决了电子板制造商寻求优化投资的基本问题。一个主要的问题是成本，由于时间是成本，由于新的最先进的机械性能和运动控制，测试时间最多可减少50%，从而为您节省资金。Pilot VX有12个多功能测试头，可同时接触多达44个点，技术先进的测量硬件、基于微波的新测量技术和优化的VIVA软件可实现不同类型测试的并行化，节省更多时间。该平台还包括智能分析功能，以及基于人工智能原理的算法，可以在运行时自动优化测试流程，同时保持测试覆盖率目标。
Pilot VX：快速、强大、智能……飞针测试的未来。
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